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悉心于半導電功能測評

普賽斯儀表攜國產化高精度數字源表等半導體電性能測試設備亮相2023慕尼黑上海電子展

種類:admin 時段:2023-07-11 16:59 預覽量:1508
        六月11日,2023慕尼黑沈陽自動化展(Electronica China)在沈陽國度展覽中盛大開幕,這屆展覽以“融為一體不斷技術水平創新、智引明天”是以題,融合半導體行業、無源元器件封裝、自動化網聯&新生物質能源汽年、感知器、接觸器、旋轉開關、智能電子器件線束電纜、主機電源、公測精確測量、數碼打印電源印刷電路板、自動化制作安全服務、先進的制作等品牌,建造從類產品來設計到應用領域離地的橫度工業上下左右游的職業 表現APP,以不斷技術水平創新技術水平帶動中自動化工業發展壯大。


        普賽斯多功能儀表銳意創新于光電元器件技術測驗英文軟件中低端裝備的產的化,攜全系統光電元器件技術電耐熱性測驗英文軟件主力吸籌服務及光電元器件技術域從材質、晶圓到元器件測驗英文軟件防止細則紅毯秀我局會展,吸納成千上萬工程建筑師和制造行業跑男嘉賓歡迎體驗感交流電。


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        考試預估是全部整個電子技術第三產業車輛品質設定的合理有效措施,光電器件跟據生產的重要的重要環節不同的,車輛品質設定分為前道的監測、中道的監測和后道考試。前道的監測俗稱為的過程 工藝設備的監測,定向晶圓處理制作業,排查光刻、刻蝕、復合膜的堆積、拆洗、CMP等晶圓處理制作業重要的重要環節后車輛處理產品參數是不是以達到設計方案特殊規范要求或產生影響力良率的缺陷,搖擺不定物理防御性的監測;中道的監測定向品質可靠封裝形式,以光學反應等非遇到式措施而對重接線設備構造、凸點與硅通孔等晶圓處理制作業重要的重要環節的車輛品質設定;后道考試關鍵定向晶圓的監測(CP,Circuit Probing)和半成品考試(FT,Final Test),排查基帶芯片性是不是具備特殊規范要求,搖擺不定電性的監測。


        強調光電器件的電性能指標方面檢查,普賽斯義表實地展出了自由技術創新的源表品類(SMU)、電單脈寬造成的恒流源 (FIMV)、直流變壓器電開關電源適配器 (FIMV、FVMI)、電單脈寬造成的恒壓源并且數據顯示報告獲取卡5個類車輛,包函直流變壓器源表、電單脈寬造成的源表、窄電單脈寬造成的直流開關電源、集成系統插卡式源表、高高精準度的更大直流開關電源、高高精準度直流變壓器電開關電源適配器、數據顯示報告獲取卡等傳統化電性能指標方面檢查義表,其相對穩判定、安全性、一直性得見廣泛應用的市面 印證。、


        聚交其次代光電器件快捷開發下中小企業受到的苦難和對決,普賽斯儀表盤副部門經理部門經理兼生產制造技術設備參與人王承與施工現場來賓參與了太深層次感的探究。


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SiC/IGBT功率半導體器件測試

        對SiC/IGBT配件在測驗中現實存在的測不可以、測不全、穩定性及其有效率低的間題,普賽斯儀器強烈推薦其中一種立于國產a化高耐用性強,精密度大數字源表(SMU)的測驗預案,享有可選的測驗工作性能、更正確的檢測的沒想到、更大的穩定性與更周到的測驗工作性能。具高的電壓(3500V)和大工作電流值(6000A)基本特征、μΩ級導通電阻熱效率準確檢測的、nA級工作電流值檢測的工作性能等基本特征。扶持高壓變壓器經營模式下檢測的熱效率配件結電阻,如投入電阻、工作輸出電阻、選擇性傳遞電阻等。


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GaN功率半導體器件測試

        對應氮化鎵(GaN)收錄砷化鎵(GaAs)等建筑材料組成的快路電子元件的I-V測驗,普賽斯設備碟照退出的CP題材單電脈沖造成的信號信號恒壓源可不可以高效能快化解測驗難處。設備的具備單電脈沖造成的信號信號電流量比較高可至10A、單電脈沖造成的信號信號間距輕柔的可低至100ns;可以支持電流、單電脈沖造成的信號信號兩種類型電流值內容輸出機制等特質。設備的可應運于GaN的自熱滯后效應,單電脈沖造成的信號信號S參數設置測驗等公共場合。

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科學技術設備比賽場長坡厚雪,國內自主研發代換需求分析微弱。普賽斯電子儀表將持繼企業創新,快速統籌推進制造業鏈中下游合作項目對接,以比較好的軟件與的服務動力加盟商實現目標制造業保值增值,共赴可持繼今后!



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