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分立器件 分立器件

分立器件

針對于半導電效能測試方法

IC芯片電性能參數測試

來自：admin 周期：2024-08-09 14:07 閱覽量：156
處理電子元元元件測試是 處理電子元元元件方案、生產、二極管封裝、測試流量中的關鍵性步，是食用相關設備，進行正確看待測元元元件DUT(Device Under Test)的查重，差異瑕疵、核驗元元元件能不合適方案的目標、分開元元元件質量的流程。這里面交流電的性能測試是抽樣檢查處理電子元元元件電的性能的關鍵性的手段中的一個，常見的測試手段是FIMV（加交流電值測線電壓值）及FVMI（加線電壓值測交流電值），測試的性能有開出現短路測試(Open/Short Test)、漏交流電值測試（Leakage Test）或者DC的性能測試（DC Parameters Test）等。


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